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Entwicklung eines Makromodells für die Schaltungs- und Zuverlässigkeitssimulation von EEPROM-Zellen im erhöhten Temperaturbereich

35,00€ inkl. MwSt.

    Autor: Nebrich, Lars
    ISBN: 978-3-86073-795-8
    Auflage: 1
    Seiten: 172
    Einband: Paperback
    Reihe: KBMS
    Band: 6

Zum Inhalt

Einleitung Nichtflüchtige Halbleiterspeicher werden seit ihrer ersten Einführung in 1971 in immer größerem Maße in elektronischen Systemen eingesetzt. Durch die Einführung der rein elektrisch umprogrammierbaren EEPROMs in 1983 und der Flash-EPROMs in 1990 wurde die Grundlage für den verstärkten Einsatz eingebetteter (engl. embedded) nichtflüchtiger Speichermodule in ASICs (Application Specific Integrated Circuits) oder Mikrokontrollern geschaffen. Die Einsatzgebiete von ASICs oderMikrokontrollern mit nichtflüchtigen Speichermodulen sind sehr vielfältig und reichen von der einfachen Chipkarte bis zu sicherheitsrelevanten Steuerungssystemen, wie sie im Automobilbereich immer stärker eingesetzt werden. Im Automobilbereich sind durch die zunehmende Integration von mechanischen und elektrischen Komponenten in einem mechatronischen System (z.B. im Getriebe oder Motor) die Speicher zudem noch einer erhöhten mechanischen, chemischen und thermischen Belastung ausgesetzt. In der Steuerelektronik des Getriebes oder des Motors werden die nichtflüchtigen Speicher zur Speicherung von Betriebsprogrammen bzw. Adaptivdaten genutzt. Daher sind sowohl eine hohe Datensicherheit, als auch eine hohe Umprogrammierbarkeit (Datenwechselstabilität) zu fordern. Die Speicher können in der Anwendung jedoch Temperaturen bis maximal 160. . .200◦C ausgesetzt sein, welche die Funktion, die Datensicherheit oder die Datenwechselstabilität beeinflussen. Um Aussagen über die Zuverlässigkeit der Speicher im Bereich von niedrigen bis zu den oben genannten hohen Temperaturen zu machen, müssen Untersuchungen zur Qualifizierung der Datenwechselstabilität und der Datensicherheit durchgeführt werden. Diese Tests sind jedoch sehr zeitaufwendig. Es wird deshalb auch im Hinblick auf immer kürzere Produktzyklen notwendig, die Charakterisierung durch Simulationsunterstützung zu beschleunigen. Eine Simulationsunterstützung bietet ausserdem die Möglichkeit schon während der Entwicklung der EEPROMZellen das Design bezüglich der Zuverlässigkeitskriterien Datensicherheit und Datenwechselstabilität zu optimieren...

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